ICECHIM - Departamentul Analize, Teste, Incercari

Dep. ANALIZE, TESTE, INCERCARI

» ACTIVITATE

Analize gaz-cromatografice
Difractie de raze X
Microscopie optica
Spectroscopie FT-IR
Analiza elementala

 

Avand avantaje cum ar fi pregatirea prealabila simpla a probei, analiza multielement rapida si nedistructiva si abilitatea de a oferi o imagine de ansamblu a probelor necunoscute, intr-o gama variata de matrici (lichide, solide, slamuri, pudra, pasta, filme subtiri, filtre de aer si multe altele), spectroscopia de fluorescenta de raze X reprezinta o analiza complementara perfecta altor tipuri de echipamente analitice din laboratoare.

Datorita acestor multe avantaje, tehnica are foarte multe aplicatii, de la cercetare la zona industriala si de la asigurarea calitatii la analize criminalistice. Teoretic, prin fluorescenta de raze X (XRF) se pot determina toate elementele mai grele decat beriliu (Z=4), dar datorita restrictiilor de ordin tehnic, cuantificarea elementelor mai usoare decat sodiul (Z = 11) este foarte dificila, daca nu imposibila.

Domenii de activitate:

• Identificare si masuratori cantitative si semicantitative
• Analiza materiale lichide si solide;
• Analiza de artefacte;
• Sinteza si caracterizare nanomateriale

Echipament:

Spectrometru de fluorescenta de raze X cu dispersie dupa energie PW 4025 MiniPal
Detector: Si-PIN, fereastra de beriliu Rezolutie detector: 255 eV la 5.9 keV (linia Mn-K?) Racire termoelectrica Tub: Rh, fereastra laterala, racire cu aer Caracteristici tub: putere maxima 9W, voltaj max. 30 kV, curent max. 1mA. Acumularea spectrului: analizor cu 2048 canale;